Оптическая микроскопия, СЭМ

Более 100 лет компания Nikon использует возможности света и оптики. С момента своего основания в 1917 году компания в Nikon непрерывно совершенствовали качество и характеристики линз, чтобы внести свой вклад в развитие культуры и науки в области обработки изображений, а также в развитие промышленности, создавая при этом уникальные технологии и продукты.

Сегодня Nikon - это всемирно известный бренд, прочно занявший лидирующие позиции на рынке оптических приборов и единственная компания по производству микроскопов и объективов, которая использует в них линзы высочайшего качества собственного производства, обеспечивая при этом контроль качества на всех его этапах. Компания Nikon всегда была в авангарде оптических и технологических инноваций, продвигая творческий подход, передовые решения и непрерывно повышая качество и надежность производимого оборудования.

Компания "STEST.kz" является одним из ведущих предприятий по комплексному оснащению центральных заводских лабораторий, отделов контроля качества, научно-исследовательских центров, метрологических служб производственных предприятий, НИИ, ВУЗов. Мы являемся официальным представителям компании Nikon Metrology на территории Российской Федерации. Наша компания имеет штат квалифицированных специалистов, службу сервиса и технической поддержки. В демонстрационный зале «STEST.kz» представлен широкий набор моделей оборудования Nikon, среди них:

• Видеоизмерительная система Nikon VMA-2520
• Инвертированный микроскоп Nikon Eclipse MA100N (для рутинных задач)
• Инвертированный микроскоп Nikon Eclipse MA200 (исследовательского класса)
• Прямой микроскоп Nikon Eclipse LV100ND
• Стереоскопический микроскоп Nikon SMZ25.

Каждый желающий может записаться на посещение демонстрационного зала и получить возможность работы на оборудовании высочайшего класса со своими образцами и задачами.

Основные группы промышленного оборудования Nikon в области оптических исследований:

• Стереомикроскопы Nikon SMZ – 745/800/1270/18/25

Компания Nikon предлагает широкую линейку стереоскопических микроскопов и принадлежностей к ним, в том числе исследовательские стереоскопические системы с лучшим в мире коэффициентом трансфокации 1:25 и превосходной разрешающей способностью. Также представлены эргономичные, удобные и доступные модели.

Серия стереомикроскопов Nikon SMZ по праву является лучшим на рынке стереомикроскопов на сегодняшний день.

Преимущества модели SMZ:

• Инновационная система «Perfect Zoom Optics»;
• Большой коэффициент трансфокации;
• Оптическая система параллельного типа;
• Автоматическая фокусировка и автоматическое управление увеличением;
• Изумительная оптика Nikon.

• Инвертированные микроскопы Nikon Eclipse MA100N/MA200

Инвертированные микроскопы отличаются конструктивными особенностями, в частности: объективы микроскопа расположены под образцом. Благодаря этому плоскость образца всегда строго перпендикулярная оптической оси объектива. Nikon представляет две модели инвертированных микроскопов: Nikon MA 100N, Nikon MA 200, которые отличаются уникальной конструкцией и надежностью.

Инвертированный металлографический микроскоп Nikon MA200 ‑ старшая модель в линейке инвертированных микроскопов Nikon. Микроскоп разрабатывался для проведения исследований в светлом и темном поле, ДИК поляризации и поляризованном свете.

Инвертированный металлографический микроскоп Nikon MA100N компактный инвертированный микроскоп, который разработан специально для работы в отраженном свете методом светлого поля и простой поляризации.

• Прямые микроскопы Nikon

Промышленные прямые  микроскопы серии LV c новой оптической системой CFI60-2, уникальное сочетание высоких числовых апертур и больших рабочих дистанций. Штатив и осветители прямых микроскопов  выбираются в зависимости от целей и методов исследования. В моделях Nikon LV реализованы различные методы наблюдения при отраженном и проходящем свете

Прямые микроскопы Nikon LV обеспечивают высокую производительность. Например, при входном контроле или при поточном контроле качества изделий и материалов на производстве, что особенно важно для изделий, к которым предъявляются высокие требования по качеству.

LV100DA-U ‑ предназначен для проведения исследований в светлом и темном поле, флуоресценции, методом ДИК и поляризованном свете. Микроскоп Nikon LV100DA-U оснащен моторизированной системой фокусировки и возможностью установки моторизированного предметного стола (например, стол PRIOR PS III). Модель LV100DA-U укомплектована 5-ти позиционным моторизованным револьвером объективов.

LV100ND ‑ предназначен для проведения исследований в светлом и темном поле, методом ДИК и поляризованном свете без моторизации.

• Поляризационные микроскопы Nikon

Высококачественные поляризационные микроскопы с  превосходными оптическими характеристиками для различных методов наблюдения. Поляризационные микроскопы Nikon используют для изучения минералов, кристаллов, шлаков, анизотропных объектов, текстильной и огнеупорной продукции, а также других материалов, для которых свойственно двойное лучепреломление. Оптическая и осветительная системы в поляризационных микроскопах Nikon отвечают высокому качеству и точному исполнению, что позволяет добиться максимально четкого изображения без искажений.

Компания Nikon считает направление поляризационной микроскопии одним из самых важных, поэтому уделяет особое внимание разработке новых моделей микроскопов и совершенствованию имеющегося модельного ряда. Итогом последних инновационных разработок и переосмысления накопленного опыта стал выпуск новой линейки поляризационных микроскопов серии Eclipse.

Поляризационный микроскоп Nikon Eclipse LV 100 POL ‑ идеальный выбор для проведения исследований в поляризованном свете. Это старшая модель серии Eclipse и лучший микроскоп в своем классе.

Поляризационный микроскоп Eclipse 50i POL ‑ идеальный выбор для проведения исследований в поляризованном свете. Это младшая модель в серии Eclipse и, на сегодняшний день, это лучший микроскоп в своем классе.

• Инспекционные микроскопы Nikon

Инспекционные микроскопы Nikon – это специализированные микроскопы, имеющие определенные отличительные особенности, что делает их отличным инструментов для инспекции печатных плат и любых других изделий. Модели инспекционных микроскопов Nikon L200 и L300  имеют существенно увеличенный ход столика и применяются для проведения исследований изделий микроэлектроники, непрозрачных структур металлов, сплавов и других объектов в отраженном свете.

• Электронные микроскопы JEOL JCM 7000

Настольные сканирующие электронные микроскопы широко применяются в лабораториях и на промышленных предприятиях. Электронный микроскоп JEOL JCM 7000 характеризуются простотой эксплуатации, низкой стоимостью обслуживания,  и в то же время позволяют выполнять исследования на увеличения до 100 000х и определять элементный состав. С помощью JEOL JCM 7000 Вы можете проводить исследование и решать задачи, которые раньше были доступны только напольным электронным микроскопам. Настольный сканирующий (растровый) электронный микроскоп (СЭМ) JCM 7000 производства JEOL (Япония) имеет компактные размеры, что позволяет легко размещать их на ограниченной площади, а при необходимости также легко их перемещать. Дружественный интерфейс, удобное программное обеспечение, простота управления и низкие эксплуатационные расходы делают этот прибор очень привлекательным для использования в научно-образовательных целях, а также при проведении поточных серийных исследований на производстве, для многих из которых совсем не требуются дорогостоящие напольные сканирующие электронные микроскопы.

• Системы анализа изображений

Для решения задач материаловедения широко используются системы фиксации изображений и их автоматического анализа.

Данные программные продукты позволяют проводить не только качественный, но и количественный анализ металлографических структур в соответствии со стандартами ASTM, DIN, ISO и ГОСТ. Вы можете проводить любые измерения, экспорт изображений, полученных на оптических микроскопах, а также сохранять все ваши результаты.

Основные методики для количественной оценки металлографических структур и задач материаловедения.

• ГОСТ 5639-82. Стали и сплавы. Методы выявления и определения величины зерна.
• ГОСТ 21073. Металлы цветные. Определение величины зерна.
• ASTM E1382 – 97. ASTM E112. Стандартная методика определения  среднего размера зерна с использованием полуавтоматического и автоматического анализа изображения.
• ISO 643-2003 (DIN 50601). Сталь – Металлографическое определение мнимой величины зерна.
• ISO 2624-1990. Медь и медные сплавы. Оценка среднего размера зерна.
• ГОСТ 1778-70. Сталь. Металлографические методы определения неметаллических включений.
• ASTM Е 1245-03. Стандартная методика определения содержания включений или второй фазовой составляющей в металлах посредством автоматического анализа изображений.
• ASTM Е 45-05. Стандартная методика определения содержания включений в стали.
• DIN 50602-1985. Металлографические методы оценки содержания неметаллических включений в высококачественных сталях.
• ISO 4967-1988. Сталь. Определение содержания неметаллических включений.
• DIN EN 10247. Металлографическое определение содержания неметаллических включений в сталях.
• КАНВ. Оценка коррозионно-активных неметаллических включений в стали.
• ГОСТ 801-78. Сталь подшипниковая. Технические условия. Неметаллические включения.
• ГОСТ Р51685-2013. Рельсы железнодорожные. Общие технические условия
• ТУ ВНИИЖТ 0921-276-01124323-2012
• SEP 1572. Определение сульфидных включений в автоматных сталях.
• ASTM E2283. Анализ экстремальных значений размеров неметаллических включений.
• ГОСТ 1763-68. Сталь. Методы определения обезуглероженного слоя.
• ISO 3887-2003. Стали. Определение глубины обезуглероживания.
• ASTM E1077-01. Стандартные методы оценки глубины обезуглероживания стальных образцов.
• ГОСТ 5640. Сталь. Металлографический метод оценки микроструктуры листов и ленты.
• ASTM E 1268-01. Стандартная методика определения степени полосчатости или ориентировки структуры.
• ГОСТ 3443-87. Отливки из чугуна с различной формой графита. Методы определения структуры.
• ISO 945. Литейный чугун. Определение структуры графита.
• ASTM A247. Стандартный метод оценки микроструктуры графита в чугунном литье.
• ASTM 2567-11. Методика количественной оценки шаровидности графита.
• ГОСТ 5639. Определение размера перлитных колоний
• Определение процентного соотношения сорбитообразного перлита к пластинчатому. Дисперсность перлита.
• Методика оценки реечного бейнита.
• Анизотропия бейнита.
• Методика оценки качества двухфазных титановых сплавов.
• ГОСТ 26492. Определение размера зерна в титановых сплавах.
• ГОСТ 1583. Сплавы алюминиевые литейные. Технические условия.
• Оценка металлургического качества жаропрочных никелевых сплавов (методика фирмы Willan Metals Ltd., РТМ 08.050).
• Межкристаллитная коррозия.
• Определение доли эвтектики в алюминиевых сплавах
• Оценка степени гомогенизации алюминиевых сплавов
• Оценка дисперсности эвтектики в алюминиевых сплавах
• Автоматизация измерений микротвердости.
• Измерение микротвердости слоев и покрытий.
• Определение соотношения вязкой/ хрупкой составляющей на изломах образцов после ИПГ. (API-5l)
• ГОСТ 4543. Прокат из легированной конструкционной стали. Технические условия.
• Определение соотношения вязкой/ хрупкой составляющей на изломах образцов Менаже/Шарпи
• Методы работы с наиболее распространенными стандартными шкалами: ГОСТ 11878, ГОСТ 19265, ГОСТ 8233, ГОСТ 3443, ГОСТ 1778, ГОСТ 801, ГОСТ 5640, ASTM E 1382, ISO 945, SEP 1520.  Статическая обработка измерений, формирование отчета. Пользователь может самостоятельно неограниченно расширять шкалы без обновления программы.
• Металлографический метод оценки ликвационной полосы.
• ГОСТ 11878. Сталь аустенитная. Методы определения содержания альфа-фазы.
• ГОСТ 801. Определение карбидной ликвации.
• QV5. Пористость.
• Анализ дендритной структуры. Определение расстояния между осями второго порядка
• Анализ раскрытия минералов для петрографических структур.
• Оценка пористости.
• Гранулометрический анализ
• Анализ гранулометрического состава взорванной горной массы
• ГОСТ26132-84. Коксы нефтяные и пековые. Метод оценки микроструктуры.
• Определение пористости материалов на основе углерода.
• Методика выполнения измерений процентного содержания графита в образцах углеродных материалов (МВИ №06-26-02, ОАО "Укрграфит").
• Методика выполнения измерения анизометричности зерен (МВИ №06-26-01, ОАО "Укрграфит").