- Бренд:
- 1
Инспекционные микроскопы Nikon L300N и L300ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. L300N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении. L300ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом и диаскопическом освещении.
Использование объективов CFI60 идеально подходит для проверки 200-миллиметровых пластин и масок. В сочетании с превосходной оптической системой Nikon CFI60 LU / L и новой системой освещения этот микроскоп обеспечивает воспроизведение изображений с большей контрастностью, высокой разрешающей способностью и работу в режиме темного поля в три раза ярче, чем было достигнуто ранее. При использовании независимо или в сочетании с загрузчиками пластин серия L300 выполняет исключительно точный оптический контроль пластин, фотошаблонов, сеток и других подложек.
Микроскоп выпускается в двух модификациях.
1. L300N предназначен для проведения исследований в светлом и темном поле, ДИК и поляризованном свете (для работы только в отраженном свете).
Моторизованный 6-ти позиционный револьвер с центровкой объективов; есть возможность подключения моторизированной системы фокусировки, автоматическое управление полевой и апертурной диафрагмами;
Три типа осветителей: галогенный 100 Вт (150 Вт) и ксеноновый 75 Вт;
Специализированный столик с перемещением по XY 354 х 268 мм и набором вставок;
Управление микроскопом вынесено на переднюю панель; имеется возможность подключения дистанционного пульта, что в совокупности с автоматической системой подачи образцов NWL200 позволяет построить полностью автоматизированный комплекс контроля качества.
2. L300ND предназначен для проведения исследований в светлом и темном поле, методом ДИК и в поляризованном свете (для работы в отраженном и проходящем свете).
Благодаря разработке новой линейки объективов с использованием линзы Френеля для работы на сверхбольших расстояниях, удалось значительно увеличить рабочее расстояние, при этом парфокальное расстояние стало меньше, размеры и вес объективов также уменьшились.
Многолетний опыт и тесное сотрудничество со специалистами в разных областях промышленности помогли разработать удобную и эргономичную модульную конструкцию микроскопа. Специальное антистатическое покрытие предотвращает попадание инородных частиц на образец.
Механизм управления предметным столом для прецизионного перемещения по осям XY расположен так, что позволяет управлять перемещением стола и фокусировкой микроскопа одной рукой.
Разница между микроскопами L200 и L300 только в размерах предметного стола и, как следствие, в возможности проводить инспекцию пластин большей площади.
Nikon L300 ‑ это необходимый инструмент для контроля качества полупроводниковых пластин.
Применения
- Антенны
- Телекоммуникации и электроника
- Полупроводниковые пластины
- Мобильные телефоны, бритвы и часы