Настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Jeol JCM 7000 NeoScope

Область применения

Настольные сканирующие электронные микроскопы нашли своё применение в широком спектре областей, таких как:

• металлургия
• машиностроение
• электротехника
• электроника
• автомобилестроение
• химическая и фармацевтическая промышленность
• контроль качества
• инспекция продукции на производственных площадках

Совместная разработка компаний JEOL и Nikon – сканирующий электронный микроскоп JCM-7000 – это уникальный продукт, позволяющий значительно повысить эффективность проводимых исследований и уменьшить затраты на их проведение.

В основе работы микроскопа JEOL JCM-7000 лежит концепция "Easy-to-use" c непрерывной навигацией и анализом в режиме реального времени, которая включает в себя: 

• Автоматический переход от оптического изображения к СЭМ изображению
• Отображение элементного состава в режиме реального времени одновременно с просмотром изображения
• Улучшенные автоматические функции, позволяющие получить чёткое изображение при любом увеличении
• Режим низкого вакуума (LV) для формирования изображения непроводящих образцов без предварительной подготовки
• Режим высокого вакуума (HV), позволяющий проводить детальное исследование морфологии
• Построение 3D модели (Live 3D) во время просмотра изображения
• SMILE VIEWTM Lab, осуществляющую формирование отчёта на основе информации, полученной из оптического и СЭМ изображений, ЭДС-данных* и местоположения

Простая эксплуатация

JEOL JCM-7000 невероятно прост в обращении и обеспечивает:

• Автоматический захват оптического изображения при загрузке образца
• Простой поиск необходимой области измерения благодаря предметному столику с моторизованными приводом XY, наклоном и вращением
• Обработка данных нажатием одной кнопки

Простота обслуживания

Источником электронов в JEOL JCM-7000 служат вольфрамовый филамент и цилиндр Венельта. Электронная пушка данного СЭМ использует предварительно центрированный картридж с интегрированным цилиндром Венельта. Картридж заменяется целиком, это позволяет ускорить процесс и при этом сохранить правильное положение филамента. Кроме того, возможна замена филамента внутри картриджа.

В стандартном СЭМ при замене филамента требуется выравнивание оси электронного луча. Если не произвести данную регулировку, то будет сложно получить чёткое изображение. В JEOL JCM-7000 выравнивание оси луча полностью автоматизировано.

Zeromag

JEOL JCM-7000 осуществляет плавный переход от оптического к СЭМ изображению. Просто найдите необходимую область обзора на оптическом изображении, а затем увеличьте нужный элемент для автоматического перехода к изображению СЭМ.

Live 3D

JCM-7000 отображает СЭМ и 3D изображения в режиме реального времени одновременно. Кроме того, для быстрого определения формы образцов со сложной топографией, могут быть получены данные об их толщине.

Live analysis и Live map

Благодаря анализу в режиме реального времени, наблюдение СЭМ и элементного ЭДС- анализа* больше не являются отдельными операциями. JCM-7000 также обладает функцией наблюдения за пространственным распределением элементов в моменте Live Map. JCM-7000 осуществляет:

• Детальный анализ образца
• Автоматический качественный и количественный анализ полученного спектра
• Отображение карт распределения элементов области наблюдения

SMILE VIEW Lab

Экран управления данными SMILE VIE Lab позволит вам с лёгкостью работать с информацией. Особенности SMILE VIE Lab:

• Интегрированное управление Zeromag (оптическим изображением)/изображением СЭМ/результатами ЭДС анализа*
• Позволяет мгновенно определять данные в наблюдаемой области
• Разнообразные функции поиска данных
• Автоматическая установка правильного макета для выбранного типа данных
• Простая модификация макета

* Система ЭДС является дополнительным оборудованием